سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

بررسی خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی Tix Si1-xO2 ساخته شده به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی RF

Publish Year: 1386
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,488

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

NCV03_010

Index date: 22 August 2008

بررسی خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی Tix Si1-xO2 ساخته شده به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی RF abstract

در این تحقیق، خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی TixSi1-xO2 که به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی فرکانس رادیویی (RF) در محیط گاز مخلوط آرگون( % 60 ) واکسیژن( % 40 ) رشد داده شده اند، مورد مطالعه و بررسی قرار گرفته است. برای بررسی خاصیت آبدوستی نمونه ها از اندازه گیری زاویه تماس قطرات آب با سطح لایه استفاده شد. این زاویه با تابش اشعه ماورای بنفش (UV) روی سطح لایه به میزان قابل توجهی کاهش می یابد. با قطع تابش اشعه UV به تدریج خاصیت آبدوستی از بین می رود، ولی مشاهده گردید که نمونه ترکیبی Ti0.56Si0.44O2 تا مدت زمان طولانی خاصیت آبدوستی خود را حفظ نمود. همچنین ضرایب عبور و بازتاب لایه ها با روش طیف سنجی نوری در محدوده طول موج مرئی و ماورای بنفش نزدیک اندازه گیری گردید. مشاهده شد که با افزایش میزان اکسید تیتانیم در ترکیب، میزان عبورکاهش یافته و به مقدار بازتاب لایه افزوده می شود.

بررسی خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی Tix Si1-xO2 ساخته شده به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی RF authors

محمد میرشکاری سلیمانی

دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف

روح الله عظیمی راد

دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف

امید اخوان

دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف

علیرضا مشفق

پژوهشکده علوم و فناوری نانو- دانشگاه صنعتی شریف

مقاله فارسی "بررسی خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی Tix Si1-xO2 ساخته شده به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی RF" توسط محمد میرشکاری سلیمانی، دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف؛ روح الله عظیمی راد، دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف؛ امید اخوان، دانشکده فیزیک- دانشگاه صنعتی شریف؛ علیرضا مشفق، پژوهشکده علوم و فناوری نانو- دانشگاه صنعتی شریف نوشته شده و در سال 1386 پس از تایید کمیته علمی سومین کنفرانس ملی خلاء پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله هستند. این مقاله در تاریخ 1 شهریور 1387 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 1488 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در این تحقیق، خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی TixSi1-xO2 که به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی فرکانس رادیویی (RF) در محیط گاز مخلوط آرگون( % 60 ) واکسیژن( % 40 ) رشد داده شده اند، مورد مطالعه و بررسی قرار گرفته است. برای بررسی خاصیت آبدوستی نمونه ها از اندازه گیری زاویه تماس قطرات آب با سطح لایه ... . برای دانلود فایل کامل مقاله بررسی خواص آبدوستی و اپتیکی لایه های نازک ترکیبی Tix Si1-xO2 ساخته شده به روش اسپاترینگ همزمان واکنشی RF با 4 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.