بررسی فیلم های نازک آهن پایه رشد داده شده به روش لایه نشانی لیزری
Publish place: 3rd National Conference on Vacuum
Publish Year: 1386
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,322
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
NCV03_026
Index date: 22 August 2008
بررسی فیلم های نازک آهن پایه رشد داده شده به روش لایه نشانی لیزری abstract
در این تحقیق فیلم های نازک آهن پایه باترکیب Fe78Si9B13 به کمک روش لایه نشانی لیزری رشد داده شدند هدف تحت خلاء پایین در معرض باریکه لیزر Nd:YAG قرار گرفته است. با استفاده از آنالیز پرتو ایکس از آمورف بودن فیلم اطمینان حاصل کرده ایم و آنالیز پس پراکندگی رادرفورد نیز به منظور اطلاع از ترکیب نمونه ها به کار رفته است. نتایج نشان داده است که ترکیب شیمیایی هدف عیناً به زیرلایه منتقل شده است. خواص مغناطیسی آن مانند چرخش کر مورد تحقیق قرار گرفته و همچنین وجود قطرک ها روی سطح فیلم بررسی شده و چگونگی تغییر آن با اعمال جریان و اندازه گیری ولتاژ هال مورد بررسی قرار گرفته است.
بررسی فیلم های نازک آهن پایه رشد داده شده به روش لایه نشانی لیزری authors
سیده مهری حمیدی سنگدهی
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک، تهران
محمد مهدی طهرانچی
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک، تهران، گروه فیزیک
مجید قناعت شعار
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک، تهران
مهرداد مرادی
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک، تهران