شبیه سازی اثر رانش یون در سنسورهای ماسفت بر پایه 4H-SiC
Publish place: چهارمین کنفرانس ملی و دومین کنفرانس بین المللی پژوهش های کاربردی در مهندسی برق، مکانیک و مکاترونیک
Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 329
This Paper With 14 Page And PDF and WORD Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ELEMECHCONF04_525
تاریخ نمایه سازی: 11 مرداد 1396
Abstract:
اثرات نفوذ و رانش یونهای سیار در کارایی و عملکرد الکتریکی ترانزیستورهای اثر میدانی با لایه اکسید فلزی بر پایه 4H-SiC، برای کاربردهای سنسوری نظیر سیالات شیمیایی و سنسور های گازی، به خصوص در محیطهای سخت و پر تنش مورد بررسی قرار گرفته است. انحراف و نفوذ این دسته از یونهای سیار در دی الکتریک گیت، به عنوان منبعی برای تغییر در سیگنال سنسور مورد شناسایی قرار گرفت. حرکت این یونها در کنار ویژگیهای الکتریکی بدست آمده، توسط پیاده سازی مدل انحراف-نفوذ در نرم افزار شبیه سازی TCADبا موفقیت اجرا شد1. در واقع در این مقاله سعی شده است تا با استفاده از نتایج بدست آمده در گزارش قبلی 1 و براساس خروجیهای شبیه سازی شده در محیط TCAD، مقادیر ضریب نفوذ و انرژی فعال سازی برای انحراف و نفوذ یون های سیار بر پایه 4H-SiC، اصلاح و بهینه شود. همچنین تمامی مراحل انجام شبیه سازی ساخت و تحلیل I-V ، در هر دو محیط Athena و Atlas تشریح خواهد شد.
Keywords:
Authors
مهدی فرامرزی
دانشجوی کارشناسی ارشد - دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران غرب
علی پورمحمد
دکترای تخصصی برق - حق التدریس دانشگاه صنعتی امیرکبیر، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران غرب