بررسی اثر تغییر محیط بر توپوگرافی ناهمواری سطح توسط میکروکانتیلور پیزوالکتریک AFM در محیط هوا و مایع
Publish place: 25th Annual Conference of Mechanical Engineering
Publish Year: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 561
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME25_484
تاریخ نمایه سازی: 13 شهریور 1396
Abstract:
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) به عنوان ابزاری قدرتمند به منظورتوپوگرافی سطوح مورد توجه قرار گرفته است. به منظور بهبود کیفیتتصاویر شبیه سازی دقیق این نانوربات ضروری است. این مقاله به بررسیرفتار ارتعاشی میکروکانتیلور پیزوالکتریک با درنظر گرفتن نیروهای بینسوزن و نمونه در نزدیکی سطح می پردازد. شبیه سازی در محیط های هواو مایع در حالت دوبعدی و سه بعدی انجام شده است. در حالت دوبعدی بااستفاده از تیوری تیر اویلر معادلات حرکت استخراج شده و با استفاده ازروش المان محدود گسسته شده اند. در حالت سه بعدی با درنظر گرفتنبرهمکنش بین محیط و کانتیلور شبیه سازی با استفاده از نرم افزار کامسولصورت گرفته است. نتایج شبیه سازی با نتایج تجربی مقایسه شده اند و نتایجپاسخ فرکانسی، زمانی و توپوگرافی سطوح در برخورد با ناهمواریمستطیلی و گوه ای در محیط هوا و مایع مورد مقایسه قرار گرفته اند.
Keywords:
Authors
علیرضا حبیب نژادکواریم
دانشجو دکتری مهندسی مکانیک، دانشکده مکانیک، دانشگاه علم و صنعت، تهران، ایران
معین عبدی
دانشجو کارشناسی ارشد مهندسی مکانیک، دانشکده مکانیک، دانشگاه علم و صنعت، تهران، ایران
محرم حبیب نژاد کورایم
دکتری مهندسی مکانیک، دانشکده مکانیک، دانشگاه علم و صنعت، تهران، ایران