بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز

علیرضا بی آرام; حسین عشقی

بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز

Publish place: 15th Iranian Conference on Optics and Photonics

Publish Year: 1387

Type: Conference paper

Language: Persian

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

Certificate
I'm the author of the paper

Export:

Link to this Paper:

https://civilica.com/doc/64980

Document National Code:

ICOPTICP15_046

Index date: 30 December 2008

بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز abstract

ما در این مقاله به بررسی تاثیر دمای زیر لایه بر ویژگی های ساختاری نوری و الکتریکی لایه های اکسید قلع با ضخامت های نانو متری (nm200=) پرداخته ایم که با روش اسپری پایرولیزیز رشد یافته اند طرح پراش پرتو x لایه ها نشان گر ساختار بسبلوری تترا گونال است که با افزایش دمای زیر لایه از 350 تا 450c تبلور آنها از (200) به (110) رو به فزونی می گذارد اندازه گیری های نوری و الکتریکی حاکی از آن است که لایه رشد یافته در دمای 425c از بالاترین ضریب عبور (91 درصد در nm550 ) و پایین ترین مقاومت ورقه ای (cm/Ù 295 ) برخوردار است . تغییرات گاف نواری بر حسب چگالی حاملها با استفاده از فرمول بروشتین - ماس تحقیق شده است .

بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز Keywords:

اسپری پایرو لیزیز , اکسید قلع , پراش پرتو x , رسانای شفاف , مقاومت ورقه ای

بررسی اثر دمای زیر لایه بر ساختار ، ویژگی های الکتریکی و نوری لایه های نانو متری رسانی شفاف اکسید قلع تهیه شده با روش اسپری پایرولیزیز authors

علیرضا بی آرام

دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود

حسین عشقی

دانشکده فیزیک ، دانشگاه صنعتی شاهرود

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :

D. Sumangala, Devi Amma, V.K. Vaidyan, P.K Manoj, Material Chemistry ...

P.S Patil, R.K. Kawar, T. Seth, D.P. Amalnerkar, P.S. Chigare, ...

T. Serin, N. Serin, S. Karadeniz, H. Sar1, N. Tugluoglu, ...

B. D. Cullity, Elements of X-ray Diffractions, Addison Wesley, London, ...

R. Swanepoel, J. Phys. E. Sci. Instrum. 17, 896, (1984). ...

V. Vasu, A. S ubraha nanyam, Thin Solid Films 202, ...

E. Burstein, Phys. Rev. 93, 632, (1954). ...

نمایش کامل مراجع