بررسی ویزگی های اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی لایه نشانی شده بر روی لایه های نازک الومینا به شیوه کندو پاش RF

Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,365

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP15_077

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387

Abstract:

در این تحقیق لایه های نازک اکسید روی (ZNO) با توانهای مختلف بر روی لایه هایی از آلومینا (Al2o3) به شیوه کندو پاش RF لای هنشانی شده و ساختار کریستالی مورفولوژی سطح مقاومت ویژه عبور نوری لایه ها در ناحیه مرئی به ترتیب توسط آنالیزهای ؛ XRD. SEM اندازه گیری مقاومت و طیف سنجی UV/VIS/IR بررسی شده است . نتایج نشان می دهد که با افزایش توان عبور نوری لایه های اکسید روی در ناحیه مرئی افزایش و شدت کریستالی لایه ها کاهش می یابد . رشد لایه ها در جهت کریستالی (002) بوده و کمترین مقاومت ویژه مربوط به لایه های اکسید روی لایه نشانی شده با توان 150وات می باشد

Authors

ابراهیم اصل سلیمانی

آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک

شمس الدین مهاجر زاده

آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • S. Logothetidis _ A.Laskarakis , S. Kassavetis , S. Lousinian ...
  • A.Yavuz Oral _ Z.Banu Bahsi _ M.Hasan Aslan . Applied ...
  • Weifeng Liu , Guotong Du , Yanfeng Sun , Yibin ...
  • Shu-Yi Tsai _ Yang-Ming Lu , Jeng-Jong Lu , Min- ...
  • E .M .Bachari , G.Baud _ S.Ben Amor , M.Jacquet ...
  • A. Asadov , W. Gao , Z. Li , J ...
  • نمایش کامل مراجع