بررسی ویزگی های اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی لایه نشانی شده بر روی لایه های نازک الومینا به شیوه کندو پاش RF
Publish place: 15th Iranian Conference on Optics and Photonics
Publish Year: 1387
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,439
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
ICOPTICP15_077
Index date: 30 December 2008
بررسی ویزگی های اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی لایه نشانی شده بر روی لایه های نازک الومینا به شیوه کندو پاش RF abstract
در این تحقیق لایه های نازک اکسید روی (ZNO) با توانهای مختلف بر روی لایه هایی از آلومینا (Al2o3) به شیوه کندو پاش RF لای هنشانی شده و ساختار کریستالی مورفولوژی سطح مقاومت ویژه عبور نوری لایه ها در ناحیه مرئی به ترتیب توسط آنالیزهای ؛ XRD. SEM اندازه گیری مقاومت و طیف سنجی UV/VIS/IR بررسی شده است . نتایج نشان می دهد که با افزایش توان عبور نوری لایه های اکسید روی در ناحیه مرئی افزایش و شدت کریستالی لایه ها کاهش می یابد . رشد لایه ها در جهت کریستالی (002) بوده و کمترین مقاومت ویژه مربوط به لایه های اکسید روی لایه نشانی شده با توان 150وات می باشد
بررسی ویزگی های اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی لایه نشانی شده بر روی لایه های نازک الومینا به شیوه کندو پاش RF Keywords:
بررسی ویزگی های اپتیکی و الکتریکی لایه های نازک اکسید روی لایه نشانی شده بر روی لایه های نازک الومینا به شیوه کندو پاش RF authors
شیده کبیری عامری ابو ترابی
آزمایشگ
نسرین خزامی پور
آزمایش
ابراهیم اصل سلیمانی
آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
شمس الدین مهاجر زاده
آزمایشگاه تحقیقاتی لایه های نازک ، گروه مهندسی برق و کامپیوتر ، دانشک
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :