سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

Login
PapersConferencesJournals

بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی

Publish place: 15th Iranian Conference on Optics and Photonics
Publish Year: 1387
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 2,359

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

Export:

Link to this Paper:
https://civilica.com/doc/65070

Document National Code:

ICOPTICP15_136

Index date: 30 December 2008

بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی abstract

لایه نازک ترکیب آلی به روش لیه نشانی چرخشی با سرعتهای چرخش گوناگون وغلظتهای گوناگون تهیه شد طیف نوری لایه ها درناحیه نورمرئی مورد مطالعه قرارگرفت ضخامت لایه ها طبق قله طیف چذبی نزدیک به nm 413 تخمین زده شد قله های جذب متناسب با سرعت چرخش و غلظت محلول مورد بررسی قرارگرفت رابطه بین ضخامت فیلم وسرعت زاویه دوران ازرابطه فرمول درمتن اصلی مقاله پیروی می کند که با نظریه مکانیسم لایه نشانی چرخشی سازگاراست با افزایش غلظت محلول لایه ضخیم تری داشتیم که این احتمالا به دلیل افزایش ویسکوزیته سیال می باشد .

بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی Keywords:

بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی authors

حجت امرالهی بیوکی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

محمود برهانی زرندی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

غضنفر میر جلیلی

دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد

محمد رضا ناطقی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد یزد ، دانشکده شیمی ، یزد

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
R. Murray, P. T Edwin, V. Taburaza, J. Olin, Semicond. ...
B. J. J. Zelinski., D. R. Uhlmann, J. Phys. Chem. ...
T. M.Parrill, J. Mater. Res. , 9, 723 (1994). ...
T. J. Regh, J. A. Ochoa-Tapia, A. Knoesen., B.G. Higgins, ...
A. G. Emsile, F. T. Bonner, L. G. Peek, J. ...
D. Meyerhofer, J.Appl. Phys. , 49, 3993 (1978). ...
M. H. Jo, J. K. Hong, H. H. Park, J. ...
K. Vorotilov, V. Petrovsky, V. Vasiljev, J. Sol-Gel Sc. Tech. ...
R. K. Yonkoski, D. S. Soane, J. Appl. Phys. , ...
W. W. Flack, D. S. Soong, A. T. Bell, D.W. ...
نمایش کامل مراجع

مقاله فارسی "بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی" توسط حجت امرالهی بیوکی، دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد؛ محمود برهانی زرندی، دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد؛ غضنفر میر جلیلی، دانشکده فیزیک ، گروه اتمی مولکولی ، دانشگاه یزد؛ محمد رضا ناطقی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد یزد ، دانشکده شیمی ، یزد نوشته شده و در سال 1387 پس از تایید کمیته علمی پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله لایه نازک ، طیف جذبی ، لایه نشانی پرخشی ، سیال نیوتنی ، سیال غیر نیوتنی هستند. این مقاله در تاریخ 10 دی 1387 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 2359 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که لایه نازک ترکیب آلی به روش لیه نشانی چرخشی با سرعتهای چرخش گوناگون وغلظتهای گوناگون تهیه شد طیف نوری لایه ها درناحیه نورمرئی مورد مطالعه قرارگرفت ضخامت لایه ها طبق قله طیف چذبی نزدیک به nm 413 تخمین زده شد قله های جذب متناسب با سرعت چرخش و غلظت محلول مورد بررسی قرارگرفت رابطه بین ضخامت فیلم وسرعت زاویه دوران ... . برای دانلود فایل کامل مقاله بررسی اثر برخی از پارامترهای لایه نشانی چرخشی بر روی ضخامت پلیمر ها به روش طیف سنجی با 4 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.