اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی
Publish place: 1st Iranian Conference on Photonics Engineering
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,343
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PHOTONICS01_063
تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1387
Abstract:
در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی به عنوان یک روش تست غیر مخرب اپتیکی تغییرات اعمال شده به
سطح، ناشی از اثرات حرارتی را بررسی کرده ایم. آزمایش با دقتی در مرتبه نصف طول موج به وسیله ی لیزر دیودی ( λ=662 nm ) انجام شد. نمونه ی مورد بررسی یک پتانسیومتر مکعب مستطیل با سطح مقطع 1×1 cm .بود.
Keywords:
Authors
علی موسویان
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
ابراهیم بحرودی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
حمید لطیفی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :