اثر ناخالصی Li بر روی خواص فوتورسانایی و ساختاری لایه های نازک نیمرسانای NiO:Li تهیه شده به روش اسپری پایرولیزیز

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,162

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP16_213

تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388

Abstract:

در این تحقیق، با استفاده از روش اسپری پایرولیزیز، لایه های نازک نیمرسانای اکسید نیکل بر روی بسترهای شیشه ای تهیه شده است. اثر دمای بستر، غلظت مولی محلول و ناخالصی لیتیم بر روی خواص فوتورسانایی لایه های نازک NiO بررسی شده است. خواص فوتورسانایی لایه ها با استفاده از قرار دادن نمونه ها در معرض تابش نور با یک شدت مشخص ( 4200 لوکس) و در یک فاصله ثابت اندازهگیری شد. طیفهای پراش اشعه X لایه ها ، ساختار پالی کریستالی لایه های نازک NiO را نشان می دهد که با افزایش ناخالصی Li تا میزان 50% نظم بلوری لایه ها افزایش می یابد.

Authors

حسن عظیمی جویباری

دامغان، دانشگاه علوم پایه دامغان، دانشکده فیزیک، آزمایشگاه تحقیقات

محمدمهدی باقری محققی

دامغان، دانشگاه علوم پایه دامغان، دانشکده فیزیک، آزمایشگاه تحقیقات

سیداحمد کتابی

دامغان، دانشگاه علوم پایه دامغان، دانشکده فیزیک، آزمایشگاه تحقیقات

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • K.Zeng, F .Zhu, J. Hu, L .Shen, K. Zhang, H. ...
  • J.D. Desai, Sun-Ki Min, Kwang-Deog Jung, Oh-Shim Joo, ...
  • B.A. Reguig, A. Khelil, L. Cattin, M. Morsli, J.C. Bernede, ...
  • U. S. Joshi, Y. Matsumoto, K. Itaka, M. Sumiya, H. ...
  • H. Ohta, M. Kamiya, T. Kamiya, M. Hirano, H. Hosono, ...
  • نمایش کامل مراجع