بهینه سازی فضای کد الگوریتم های تست در خودآزمون داخلی حافظه
Publish place: 15th Annual Conference of Computer Society of Iran
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,285
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CSICC15_086
تاریخ نمایه سازی: 26 مهر 1388
Abstract:
امروزه در آزمون حافظه های جاسازی شده در تراشه های سیستمی (System_on_Chip) ، از الگوریتم های تست March به طور گستردهای استفاده میشود. در این مقاله، روشی نوین به منظور کدکردن این الگوریتمها برای استفاده در یک ساختار خودآزمون داخلی (Built_in Self_test) ارائه شده است. این روش علاوه بر بهینه سازی فضای حافظه لازم برای ذخیره کدها، قابلیت استفاده برای طیف وسیعی از الگوریتمها را نیز دارا میباشد.
Keywords:
Authors
مریم سنقرزاده
دانشگاه گیلان
راهبه نیارکی اصلی
دانشگاه گیلان
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :