تسریع در متدهای آزمون مدارهای دیجیتال با جایگزینی شاخص پوشش
Publish place: 3rd International Conference on Electrical Engineering
Publish Year: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 422
This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICELE03_369
تاریخ نمایه سازی: 18 اسفند 1397
Abstract:
شبیه سازی اشکال و محاسبه شاخص پوشش اشکال در بسیاری از متدهای آزمون مدارهای دیجیتال مانند روش هایتولید بردار آزمون، روش های ارزیابی بردارهای آزمون، روشهای ارزیابی آزمون پذیری مدارهای دیجیتال، و روش های عیب-یابی مدارهای دیجیتال مورد استفاده قرار می گیرد. روشهای معمول برای محاسبه پوشش اشکال، بسیار کند و زمانبر بودهو یک گلوگاه جدی در روشهای آزمون مدارهای دیجیتال محسوب میشوند. در این مقاله یک معیار جایگزین در سیستممحاسباتی احتمالی، به نام شاخص شایستگی به عنوان یک جایگزین مناسب برای معیار پوشش اشکال پیشنهاد شده است.ضریب همبستگی بین شاخص شایستگی و پوشش اشکال برای تعدادی مدار محک از مجموعه مدارهای محک ISCAS85محاسبه شده و نتایج محاسبات، همبستگی قوی بین این دو شاخص را نشان میدهد.
Keywords:
Authors
مهتاب فولادی
دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران
آرزو کامران
دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران