مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی
Publish place: 14th Geophysics Conference of Iran
Publish Year: 1389
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 3,246
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
GCI14_038
Index date: 8 December 2009
مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی abstract
در این تحقیق با استفاده از تئوری تصویر به تعیین محل و آشکارسازی محل دایک قائم نازک پرداخته شده و تغییرات جانبی مقاومت ویژه با عملیات پروفیلزنی مورد ارزیابی قرار گرفته است. نتایج حاصله با استفاده از آرایههای ونر، شلومبرژه، نیم شلومبرژه و دوقطبی-دوقطبی مورد بررسی قرار گرفته است.ابتدا برای وضعیتهای مختلف الکترودها پتانسیل محاسبه شده و سپس برای بدست آوردن مقاومت ویژه ظاهری برنامهای با نرم افزار (MATLAB) تهیه شده و توسط آن تغییرات مقاومت ویژه ظاهری نسبت به فاصله نقطه وسط الکترودهای پتانسیل تا مرکز دایک برای K های (ضرایب بازتاب) مختلف رسم شده است. در نهایت آشکارسازی دایک برای مقاومت ویژههای متفاوت با آرایههای مختلف مورد بررسی و مقایسه قرار گرفته است
مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی authors
نیکو نیک بین
کارشناس ارشد ژئوفیزیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران شمال
میرستار مشین چی اصل
عضو هیئت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات