Modeling and control of atomic force microscope for imaging using neural network
Publish place: 17th Annual Conference of Mechanical Engineering
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,424
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_693
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
Abstract:
Atomic force microscope (AFM) can provide topograhic images of surfaces. Control the vibration behavior of the AFM and make the probe tip track a certain trajectory is important to appropriately scanning.
Keywords:
Authors
h babahosseini
MSc stuent mechanical eng
s.m yazdian
MSC student of mechanical eng
h sayyaadi
associated professor
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :