سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

مشخصه سنجی تابش EUVو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری AXUV

Publish Year: 1398
Type: Journal paper
Language: Persian
View: 340

This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

JR_PSI-19-4_017

Index date: 20 February 2021

مشخصه سنجی تابش EUVو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری AXUV abstract

نتایج تجربی بدست آمده از تابش ایکس نرم (SXR) و فرابنفش قوی یا EUV extreme ultraviolet)) بوسیله آشکارساز دیود نوری AXUV (absolute extreme ultraviolet) حاصل از برهمکنش میدان لیزر نانوثانیه برای اولین بار در ایران مورد بررسی و تحلیل قرار گرفته اند. تابش فرابنفش قوی و ایکس نرم از پلاسمای تولید شده  با هدف فلزی استیل - 316، گسیل می گردد. سامانه لیزری پالسی با انرژی 250 میلی ژول،  با پهنای زمانی 10- 30 نانوثانیه در طول موج 1064 نانومتر تولید می کند. نتایج در محدوده طول موج تابشی یک رابطه خطی بین انرژی پالس لیزر و انرژی تابش از پلاسما را نشان می دهد. پالس های تابش پلاسما در این محدوده با قله مشخص و بلند در سیگنال حاصل از آشکار ساز AXUV  با پهنای زمانی حدود 15 نانوثانیه و با تاخیر حدود 20 نانوثانیه نسبت به پالس لیزر مشاهده و ثبت گردید. همچنین میانگین بازدهی تبدیل انژی لیزر به تابش پلاسما در گستره بینابی ایکس نرم و فرابنفش قوی حدود 2/5 %  محاسبه شده است.

مشخصه سنجی تابش EUVو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری AXUV Keywords:

مشخصه سنجی تابش EUVو ایکس نرم از پلاسمای تولید شده در میدان لیزر نانوثانیه بوسیله آشکار ساز دیود نوری AXUV authors

نادر مرشدیان

پژوهشکده پلاسما و گداخت هستهای، پژوهشگاه علوم و فنون هستهای

امیرحسین فرهبد

پژوهشکده پلاسما و گداخت هستهای، پژوهشگاه علوم و فنون هستهای

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
A G Michette, “Optical systems for soft X-rays, Plenum Press”, ...
E Spiller, “Soft X-ray Optics”, SPIE Optical Engineering Press, Bellingham, ...
Y Duan et al., Plasma Science and Technology 13, 5 ...
A S Prokhorov, et al., Plasma Physics Report 30, 2 ...
Y Liu, et al., Rev. Sci. Instrum. 74, 4 (2003) ...
C Suzuki, B J Peterson, and K Ida, Rev. Sci. ...
S Santosh, et al., X-Ray Spectrom. 45 (2016) 185. ...
M Richardson, et al., J. Vac. Sci. Technol. B 22, ...
J Tang, et al., Plasma Science and Technology 18, 3 ...
W Liqiu, et al., Journal of Applied Physics 117 (2015) ...
W Liqiu, et al., Vacuum 123 (2016) 126. ...
L Wenbo, et al., Vacuum 136 (2017) 77. ...
L A Gizzi, et al., Phys. E 49 (1994) 5628. ...
P R Willmott and J R Huber, Rev. Mod. Phys. ...
E Woryna, et al., Rev. Sci. Instrum. 71 (2000) 949. ...
L Torrisi, et al., Appl. Surf. Sci. 217 (2003) 319. ...
“Opto Diode Optoelectronics Data Book”, Innovators in Optoelectronics, http://optodiode. com/ ...
A Saxena et al., Applied Physics 2, 2 (2010) 176. ...
ن مرشدیان، ف شاهوردی و ا ح فرهبد، مجلة پژوهش ...
19. N Morshedian, F Shahverdi, and A H Farahbod, Iranian ...
م افشاری، "مطالعه پرتو X نرم حاصل از برهم‌کنش باریکة ...
Y Tao, F Sohbatzadeh, A Sunahara and T Kawamura, Appl. ...
نمایش کامل مراجع