مروری بر کاربردهای طیف سنجی و تصویربرداری پرتو X سینکروترون
Publish place: The Physics Society Of Iran، Vol: 21، Issue: 1
Publish Year: 1400
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 412
This Paper With 22 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_PSI-21-1_001
تاریخ نمایه سازی: 20 مرداد 1400
Abstract:
تابش سینکروترون، از یک نور قطبی و موازی با درخشندگی خیلی زیاد و شدت بالا تشکیل شده است که شامل گستره وسیعی از طول موجها، از فروسرخ تا پرتوهای X پرانرژی است. در این مقاله خلاصه ای از کاربرد های تابش سینکروترون در طیف سنجی و تصویربرداری به کمک پرتو X، ارائه شده است. این کاربرد ها شامل پراش پرتو X مواد پودری (XRPD)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای بزرگ (WAXS)، پراکندگی پرتو ایکس در زوایای کوچک (SAXS)، فلورسانس پرتو X (XRF)، بازتابسنجی پرتو X (XRR)، جذب لبه نزدیک ساختار ظریف پرتو X (NEXAFS)، جذب لبه نزدیک ساختار پرتو X (XANES)، طیف سنجی فوتوالکترونی پرتو X (XPS)، طیف سنجی نشری پرتو X (XES) و تصویر برداری به کمک پرتو X است. این تکنیکها، برای مشخصهیابی انواع ساختارهای مواد مختلف در اندازههای میکرو و نانو توانایی بالایی دارند. علاوه بر این، استفاده از این فناوری ها مزیت هائی مانند صحت بیشتر اندازهگیریها، بهبود نسبت "علامت به نوفه"، تفکیک فضایی بهتر و سرعت بیشتر جمع آوری دادهها دارد.
Keywords:
Authors
ابوالفضل کشتکار وناشی
دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره)
حسین قاسم زاده محمدی
دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره)
شیروان افراز
دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره)
سعید اصغری زاده
دانشگاه تبریز
محمد لامعی رشتی
سازمان انرژی اتمی ایران
منا حداد
دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره)
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :