chemical and Morphological influence of SALT fog aging on silicon insulators
Publish place: 26th International Power System Conference
Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,728
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PSC26_005
تاریخ نمایه سازی: 27 اسفند 1390
Abstract:
This work investigates on morphological and chemical characteristics of the surface of silicon insulators under aging conditions. For this purpose, a 500 hour salt-fog test was carried out on 24 KV insulators according to IEC 61109. FT-IR results showed that the intensity of Si-CH3 bond increased in the (SEM) was employed to monitor the morphological characteristics of the insulator after the test. SEM micrographs showed that the roughness of the sample increased under aging conditions. In order to investigate fillers’ concentration of the insulator before and after aging, Scanning Electron Al/Si of the virgin sample is higher than that of the aged one. It is due to deficiency of Al and Si fillers.
Keywords:
Authors
B Elmdost
Niroo Research Institute- Tehran- Iran
S Gharazil
Niroo Research Institute, Tehran, Iran
A Zamani
Taban Niroo Company, Shiraz, Iran
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :