اندازه گیری ضریب تضعیف خطی کامپوزیت های تقویت شده با مواد نانو مورد استفاده در حفاظ سازی
Publish Year: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 213
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_RSM-6-3_002
تاریخ نمایه سازی: 15 فروردین 1401
Abstract:
استفاده از پرتوهای اشعه ایکس در صنایع مختلف و به خصوص در کاربرد های پزشکی در حال افزایش است. در این راستا طراحی مواد محافظ سبک و کارآمد بر پایه نانو کامپوزیت های پلیمری و مطالعه دقیق تاثیر افزودن نانو ذرات با اندازه های مختلف در پلیمرها بر تضعیف اشعه ایکس ضروری به نظر می رسد. در این تحقیق نانو کامپوزیت های اپوکسی با درصدهای مختلف نانو ذرات اکسید مس (۵ و ۱۰ درصد وزنی) تولیدشده و تاثیر پارامترهای مختلف ازجمله انرژی پرتوهای اشعه ایکس و ضخامت نمونه ها بر تضعیف اشعه ایکس موردمطالعه قرار گرفت. برای این منظور نمونه های نانو کامپوزیتی در معرض اشعه ایکس مشخصه keV ۲۵.۲۷ و keV ۲۸.۴۹ ناشی از قلع قرارگرفته و ضریب تضعیف خطی نمونه ها با استفاده از طیف نگار نیمه هادی HPGe اندازه گیری شد. همچنین نحوه توزیع نانو ذرات درزمینه اپوکسی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی موردبررسی قرار گرفت. نتایج آزمون اشعه ایکس نشان دهنده تفاوت قابل توجه توانایی اپوکسی در تضعیف اشعه ایکس با افزودن نانو ذرات می باشد. همچنین تصاویر میکروسکوپی توزیع مناسب نانو ذرات درزمینه اپوکسی حتی در درصدهای بالا را نشان می دهد.
Keywords:
Nanoparticle , Copper oxide , Epoxy , X-ray , Attenuation Coefficient , نانوذره , اکسید مس , اپوکسی , اشعه ایکس , ضریب تضعیف
Authors
سمیرا سرشوق
Shiraz University
کمال حداد
Shiraz University
رضا فقیهی
Shiraz University
سید مجتبی زبرجد
Shiraz University
محمدهادی مقیم
Shiraz University
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :