تعیین و اندازه گیری عناصر اصلی سازنده سنگهای سیلیکاته به روش فلورسانس اشعه ایکس از طریق تهیه قرصهای شیشه ای
Publish place: The 40th National Geosciences Congress
Publish Year: 1400
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 134
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
GSI40_008
تاریخ نمایه سازی: 1 تیر 1401
Abstract:
طیف نگاری فلورسانس اشعه ایکس از روشهای آنالیز به صورت چند عنصری است. با استفاده از این تکنیک، میتوان آنالیز عنصری را به صورت کمی و نیمه کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستانی، زمین شناسی، سیمان، سرامیک و آلیاژهای فلزی انجام داد که ردیابی عناصر از سبک)سدیم( تا سنگین مثل اورانیوم به جز گازهای نجیب را ممکن میسازد . این کار پژوهشی، ابتدا تعدادی نمونه سنگی سیلیکاته پس از خردایش و آسیاب با استفاده از یک کمک ذوب مناسب، ذوب شده و به صورت قرص شیشه ای )یا قرص ذوب( قالب گذاری شدند. تعدادی از قرصهای شیشه ای بعد از آنالیز ) به وسیله آزمایشگاه مرجع( برای کالیبراسیون عناصر اصلی استفاده شدند. سپس تعدادی نمونه سنگی سیلیکاته به صورت قرص شیشه ای به وسیله دستگاه فلورسانس اشعه ایکس آنالیز شده و نتایج بدست آمده با نتایج آزمایشگاه مرجع مورد مقایسه قرار گرفتند. مقایسه نتایج نشان میدهد که صحت نتایج قابل قبول میباشد. دلیل این امر میتواند این باشد که خطاهای آنالیزی مربوط به اندازه دانه و تاثیر ماتریس با تهیه قرص شیشه ای از سنگهای سیلیکاته )به عنوان نمونه های همگن شده( حذف میشوند.
Keywords:
Authors