XRD Studies on Annealing Process of Ball-Milled Copper Powder

Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,694

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICMH03_078

تاریخ نمایه سازی: 21 تیر 1391

Abstract:

In this study, the annealing process of ball-milled copper powder at different times and temperatures has been investigated by XRD. For this reason, commercial purity 325-mesh copper powder was milled in a planetary ball mill for 2hr and then was annealed for 5-30min at a temperature range 400-500oC. The crystallite size, residual microstrain, and dislocation density have been calculated by the Scherrer, Williamson-Hall (W-H) and Popa techniques. The results indicate that, in general, with increasing time at each temperature, dislocation density decreases and the decreasing rate, increases with increasing temperature. Also, microstructural information obtained by the W-H and Popa techniques has the same order of magnitude, while the values obtained by the Scherrer technique exhibit significant differences than the other two methods. The reason of these differences has been explained by considering the methodology of each technique

Authors

g Dini

Assistant Professor

H.R Abedi

Chief Expert

M. Akbari

Chief Expert

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Snyder R., Fiala J., and Bunge H.J., Defect and Microstructure ...
  • David W.I.F., Shankland K., McCusker L.B. and Baerlocher Ch. Structure ...
  • Humphreys F.J. and Hatherly M., Recrysta llization Related Annealing Phenomena, ...
  • Williamson G.K and Hal W.H, X-ray line broadening from filed ...
  • Popa N.C., The (hkl) Dependence of Diffraction-Line Broadening Caused by ...
  • نمایش کامل مراجع