افزایش تحمل پذیری مدارهای ترکیبی در مقابل خطای نرم مبتنی بر جایگزینی منطقی محلی
Publish place: Electronics Industries Quarterly، Vol: 8، Issue: 2
Publish Year: 1396
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 72
This Paper With 16 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_SAIRAN-8-2_005
تاریخ نمایه سازی: 9 آبان 1402
Abstract:
در این مقاله یک تکنیک باز-سنتز مبتنی بر جایگزینی منطقی محلی به منظور کاهش نرخ خطای نرم مدارهای ترکیبی ارائه شده است. روش پیشنهادی راه کار خلاقانه ای را جهت افزایش احتمال پوشش منطقی مدار تحت خطای نرم و با در نظر گرفتن محدودیت مساحت فراهم می آورد. در این تکنیک، ابتدا زیرمداری از مدار اصلی استخراج می شود و به کمک روش Quine–McCluskey (QM) توسعه یافته، پیاده سازی های مختلف از زیرمدار به دست می آید. به منظور انتخاب بهترین جایگزین از بین مجموعه پیاده سازی های مختلف زیرمدار با کمترین نرخ خطای نرم، معیار جدید Global Failure Probability (GFP) ارائه شده است. این معیار، با در نظر گرفتن پارامترهای نظیر احتمال ایجاد پالس های گذرای خطادار در زیرمدار و احتمال انتشار این پالس ها توسط زیرمدار، این امکان را فراهم می آورد که پس از تغییر محلی ساختار زیرمدار بتوان به ارزیابی سراسری نرخ خطای نرم ناشی از این تغییر پرداخت. به عبارت دیگر، معیار ارائه شده در هر مرحله از فرآیند بهبود نرخ خطای نرم بدون نیاز به جایگزین نمودن تمام پیاده سازی های مختلف از زیرمدار در مدار اصلی و محاسبه نرخ خطای نرم کل مدار به ازای هرکدام از آن ها، تاثیر هر یک را در نرخ خطای نرم مدار اصلی محاسبه می نماید. نتایج حاصل از شبیه سازی ها بر روی مدارهای محک ISCAS’۸۵ نشان می دهد که روش پیشنهادی به طور میانگین موجب ۱۷/۷۵% کاهش نرخ خطای نرم به ازای ۵/۳۹% سربار مساحت شده است.
Keywords:
Authors
بهنام قوامی
دانشگاه باهنر کرمان
محمد رضا روحانی پور
دانشگاه شهید باهنر کرمان
محسن راجی اسدآبادی
دانشگاه شیراز