مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن
Publish Year: 1396
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 150
This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
IRANLABCO03_133
Index date: 6 January 2024
مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن abstract
طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X به یکی از پرکاربردترین تکنیک های آنالیز سطح تبدیل شده است . XPSیا طیف سنجی الکترونی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی با قابلیت به دست آوردن ترکیب عنصری کمی ، حالت شیمیایی و اطلاعات ضخامت لایه پوششی از بالای ۱۰ نانومتر از سطح نمونه ، یک روش همه کاره و گسترده است . در این مقاله مروری ، اصول اولیه این تکنیک از جمله اثر فوتوالکتریک ، چگونگی برهمکنش الکترون ها با ماده، عوامل موثر در این تکنیک مانند آلودگی سطحی ، و اثر محیط شیمیایی اطراف یک عنصر بر انرژی اتصال الکترون های خود ارائه شده است . همچنین کاردبردها و روشکار این تکنیک مورد بحث قرار گرفته است .
مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن Keywords:
مروری بر طیف سنجی فوتوالکترون پرتو (XPS) X وکاربردهای آن authors
فرخفر ولیزاده هرزند
دانشگاه محقق اردبیلی ،
علی نعمت اله زاده
دانشگاه محقق اردبیلی ،