کاربرد طیف سنجی طول عمر پوزیترون (PLS) و پراش پرتو ایکس (XRD) به عنوان ابزارهای اندازه گیری در بررسی اثر تابش نوترون سریع بر ویژگی های ساختاری نانوپودرهای فریت نیکل

در این پژوهش طیف سنجی طول عمر نابودی پوزیترون به عنوان تکنیکی غیرمخرب برای بررسی عیوب و تغییرات چگالی الکترونی ناشی از تابش نوترون سریع مورد استفاده قرار گرفته است. نانوپودرهای فریت نیکل به روش سل-ژل تهیه و در دمای℃۳۰۰ پخت داده شدند. اندازه گیری های پراش پرتو ایکس (XRD) و تصویربرداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)، تشکیل نانوذرات تکفاز فریت نیکل را تایید کردند. به منظور بهبود ویژگی ها و همچنین بررسی اثرات تابش نوترون، نانوپودرهای تهیه شده تحت تابش نوترون سریع حاصل از چشمه ی همسانگرد ۲۴۱Am-۹Be با آهنگ دوز ۱۲۵ Svh قرار گرفتند. نانوپودرها، دوزهای تابشی کل ۲۱ mSv ، mSv ۴۲ و mSv ۶۳ به ترتیب برای یک، دو و سه هفته تابش دهی دریافت کردند. اثرات تابش بر روی ویژگی های ساختاری و ایجاد عیوب در نمونه ها، با استفاده از اندازه گیری های پراش پرتو ایکس (XRD) و طیف سنجی طول عمر پوزیترون (PLS) از نمونه های تابش داده نشده و تابش داده شده بررسی شد. پراش پرتو ایکس نشان داد که با افزایش دوز تابشی دریافتی قله های پراش پرتو ایکس پهن تر شده و شدت شان کاهش می یابد که نشان دهنده ی کاهش اندازه بلورک در نمونه می باشد. پارامتر های PALS (۱, ۲, ۳, I۱, I۲, I۳) نشان دادند که تابش نوترون سریع بر میزان و غلظت عیوب نوع-حفره تاثیر می-گذارد. همچنین مشخص شد که تابش نوترون سریع برای نمونه ی مورد بررسی باعث جوش خوردن نانوذرات به یکدیگر شده و نوعی بازآرایی و مقاومت تابشی در نمونه دیده شد.

Keywords:

تابش , نوترون سریع , پراش پرتو ایکس , طیف سنجی طول عمر پوزیترون , عیوب , فریت نیکل