آزمون سطوح اپتیکی با توان تفکیک فضایی بالاتر از حسگر شیک- هارتمن با استفاده از معادله انتقال شدت
Publish Year: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,373
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCOLE03_072
تاریخ نمایه سازی: 28 آذر 1392
Abstract:
آزمون سطوح اپتیکی برای بسیاری از کاربردها، به ویژه برای تولیدکنندگان قطعات اپتیکی دارای اهمیت زیادی است .بسته به توانایی روشهای مختلف آزمون سطوح، برای سطوح با پارامترهای اپتیکی مختلف، از روش ها خاصی استفاده می گردد. توزیع فاز را می توان با استفاده از حل معادله انتقال شدت (TIE) و با اندازه گیری توزیع شدت در نقاط مختلف محور اپتیکی بدست آورد. روش TIE جایگزینی کارآ برای روشهای تداخل سنجی در شرایطی که آن روشها قابل استفاده نیستند است. در این مقاله به طور تجربی نشان داده ایم که با چیدمانی ساده می توان سطوح اپتیکی عبوری را با استفاده از TIE و با توان تفکیک بالاتر از آنچه روش حسگر شیک- هارتمن به دست می دهد آزمود. یک چیدمان برای هر دو روش TIE و شیک- هارتمن استفاده شده و برای سطح اپتیکی دارای ابیراهی نتایج باهم مقایسه شده اند. با تحلیل اطلاعات بدست آمده همخوانی نتایج دو روش ، و توان تفکیک بالاتر روش TIE نشان داده شده اند.
Keywords:
Authors
پیمان سلطانی
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان، ایران
رامین شمالی
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان، ایران
جواد امیری
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان، ایران
احمد درودی
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان، ایران. پژوهشکده اپتیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی در علوم پایه زنجان، زنجان، ایران
علیرضا مرادی
گروه فیزیک، دانشکده علوم، دانشگاه زنجان، زنجان، ایران. پژوهشکده اپتیک، دانشگاه تحصیلات تکمیلی در علوم پایه زنجان، زنجان، ایران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :