سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

پیش بینی غیرمخرب سفتی سیب در طول دوره انبارداری بر پایه تصاویر نقطه ای دینامیکی

Publish Year: 1396
Type: Journal paper
Language: Persian
View: 588

This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

JR_JAM-7-1_012

Index date: 8 August 2017

پیش بینی غیرمخرب سفتی سیب در طول دوره انبارداری بر پایه تصاویر نقطه ای دینامیکی abstract

تصویربرداری بایواسپکل یا استفاده از تصاویر نقطه ای دینامیکی به عنوان یک روش نوری نوین در ارزیابی غیر مخرب کیفیت محصولاتکشاورزی- غذایی طی سالهای اخیر مورد توجه قرار گرفته است. در این پژوهش، توانایی این روش در ارزیابی شاخص سفتی میوه سیب (رقم رددلیشس) در طول 5 ماه انبارداری بررسی شد. برای این منظور، تصاویر نقطه ای دینامیکی از نمونه های سیب در دو طول موج 680 و 780 نانومتر به طورجداگانه و در طی دوره انبارداری تحصیل و پردازش شد. در این راستا، افزون بر ویژگی های مرسوم در تحلیل تصاویر نقطه ای دینامیکی ، ویژگی های مبتنی بر تبدیل موجک و بافت نیز مورد بررسی قرار گرفت. از سوی دیگر، اندازه گیری سفتی بافت میوهها از طریق آزمون مخرب نفوذ تعیین شد. در نهایت، توانایی این روش در پیش بینی سفتی میوه سیب با تدوین مدل های رگرسیون غیرخطی مورد ارزیابی قرار گرفت. نتایج نشان داد که روش مذکور قادر به پیش بینی غیر مخرب ویژگی سفتی سیب است. نتایج نشان داد، بهترین مدل واسنجی تدوین شده توانسته با ضریب همبستگی r(p)=0/81 و خطای استاندارد SE(p)=8/4N در طول موج 680 نانومتر و همچنین ضریب همبستگی r(p)=0/83 و خطای استاندارد SE(p)=8/2N در طول موج 780 نانومتر، ویژگی سفتی سیب را پیش بینی کند.

پیش بینی غیرمخرب سفتی سیب در طول دوره انبارداری بر پایه تصاویر نقطه ای دینامیکی Keywords:

پیش بینی غیرمخرب سفتی سیب در طول دوره انبارداری بر پایه تصاویر نقطه ای دینامیکی authors

بهاره جمشیدی

استادیار، موسسه تحقیقات فنی و مهندسی کشاورزی، سازمان تحقیقات، آموزش و ترویج کشاورزی، کرج، ایران

آرمان عارفی

دانش آموخته دکتری تخصصی ، گروه مکانیک بیوسیستم، دانشگاه ارومیه، ارومیه، ایران

سعید مینایی

دانشیار، گروه مکانیک بیوسیستم، دانشکده کشاورزی، دانشگاه تربیت مدرس، تهران، ایران