اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی
Publish place: 1st Iranian Conference on Photonics Engineering
Publish Year: 1387
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,442
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
PHOTONICS01_063
Index date: 2 January 2009
اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی abstract
در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی به عنوان یک روش تست غیر مخرب اپتیکی تغییرات اعمال شده به
سطح، ناشی از اثرات حرارتی را بررسی کرده ایم. آزمایش با دقتی در مرتبه نصف طول موج به وسیله ی لیزر دیودی ( λ=662 nm ) انجام شد. نمونه ی مورد بررسی یک پتانسیومتر مکعب مستطیل با سطح مقطع 1×1 cm .بود.
اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی Keywords:
اندازه گیری تغییرات زیر- میکرونی سطح به دلیل اثرات حرارتی به روش تداخل سنجی الکترونیکی اسپکلی authors
علی موسویان
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
ابراهیم بحرودی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
حمید لطیفی
پژوهشکده لیزر و پلاسما، دانشگاه شهید بهشتی، اوین، تهران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :