سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی

Publish Year: 1388
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 2,722

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

ICC07_118

Index date: 30 March 2009

ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی abstract

در این تحقیق عوامل خطا در آنالیز شیشه های اوپال به روش فلورسانس اشعه ا یکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت. حضور فازها ی کریستالی در شیشه های اوپال و ماتریس پیچیده این شیشه آنالیز دقیق آن را با مشکلات فراوانی روبه رو می سازد. در این مقاله به کمک مدل پارامترهای اس اسی، اثر ماتریس نمونه برروی آنالیز مواد چند جزئی با فلورسانس اشعه ایکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت و ضرایب تأثیر i.ja که بر پایه فلورسانس اولیه و ثانویه می باشد، محاسبه گردید. با اعمال این مدل ریاضی و مقایسه آن با نمونه استاندارد SRM-01 نتایج قابل قبولی برای آنالیز شیشه اوپال بدست آمد. با بررسی داده های بدست آمده نتیجه گیری می شود که از اثر فلورسانس اولیه و ثانویه در مورد آنالیز Ba,Ca,Na,F,Si,Al,Zr,Fe در شیشه اوپال نمی توان صرفنظر کرد . همچنین با مطالعه فازها ی کریستالی تشکیل شده در ا ین شیشه با استفاده از XRD علت انحراف در آنالیز اکسیدی عناصر آشکار و ضریب تصحیح آنها نیز محاسبه گردید.

ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی Keywords:

ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی authors

مهرداد دهرآزما

آزمایشگاه تکنولوژی شیشه، شرکت سپیده جام توس (گروه کارخانجات مقصود) شه

رضا ظهیری

دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان

پژمان خورشیدی

دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان گروه شیمی دانشگاه آزاد ا

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
در 100 گرم بچ 0.1315 _ = 2.105 gr O ...
G. ZscloTack, ،Handbook of X-Ray data, Springer. (2007) 88-106. ...
J. L. de Vvries aLd B. A. R. Verbose, _، ...
R. Sitko, ،Tleoretical inflvence coeffciets for correction of matix effects ...
B. Tal aud W. sUu, ،Comection metbod for the matix ...
Correctio in X-Ray Fluorescence analysis by tle effecive coeffciet atrix^ء، ...
نمایش کامل مراجع

مقاله فارسی "ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی" توسط مهرداد دهرآزما، آزمایشگاه تکنولوژی شیشه، شرکت سپیده جام توس (گروه کارخانجات مقصود) شه؛ رضا ظهیری، دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان؛ پژمان خورشیدی، دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان گروه شیمی دانشگاه آزاد ا نوشته شده و در سال 1388 پس از تایید کمیته علمی هفتمین کنگره سرامیک ایران پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله شیشه اوپال، فلورسانس اشعه ایکس (XRF)، مدل پارامترهای اساسی، فازهای کریستالی ، XRD هستند. این مقاله در تاریخ 10 فروردین 1388 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 2722 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در این تحقیق عوامل خطا در آنالیز شیشه های اوپال به روش فلورسانس اشعه ا یکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت. حضور فازها ی کریستالی در شیشه های اوپال و ماتریس پیچیده این شیشه آنالیز دقیق آن را با مشکلات فراوانی روبه رو می سازد. در این مقاله به کمک مدل پارامترهای اس اسی، اثر ماتریس نمونه برروی آنالیز مواد ... . برای دانلود فایل کامل مقاله ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی با 7 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.