رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی
Publish place: 16th Iranian Conference on Optics and Photonics (ICOP2010)
Publish Year: 1388
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,261
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
ICOPTICP16_140
Index date: 9 July 2009
رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی abstract
امروزه فیلمهای نازک نیم رسانای مغناطیسی رقیق شده توجه زیادی را به خود اختصاص داده اند. دراین مقاله فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با دو درصد کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی در خلاء و دمای زیرلایه مناسب لایه نشانی شده است. بررسی ساختار لایه نازک با استفاده از طیف پراش پرتو ایکس، تصویر میکروسکوپ نیروی اتمی، تصویر میکروسکوپ الکترونی انجام شده است همچنین رفتار مغناطیسی لایه به کمک چیدمان اندازه گیری چرخش فارادی به منظور بررسی امکان استفاده از آن در ترابرد اسپینی فرومغناطیس ها در دمای اتاق، مورد مطالعه قرار گرفته است.
رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی Keywords:
اکسید روی دوپه شده با کبالت , لایه نشانی لیزر پالسی , نیم رسانای مغناطیسی رقیق شده
رشد و مشخصه یابی فیلم نازک اکسید روی دوپه شده با کبالت به روش لایه نشانی لیزر پالسی authors
لیلا خرم نیک
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
سیده مهری حمیدی سنگدهی
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
منصوره شصتی
پژوهشکده لیزر و پلاسما دانشگاه شهید بهشتی اوین تهران
محمدمهدی طهرانچی
پژوهشکده لیزر، دانشگاه شهید بهشتی ، ولنجک ، تهران پژوهشکده لیزر و پلا
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :