برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای
Publish place: 16th Iranian Conference on Optics and Photonics (ICOP2010)
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,191
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP16_232
تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388
Abstract:
در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی با فاز پله ای متغیر در بازوی مرجع، توپوگرافی تغییرات اعمال شده به سطح را بدست آورده ایم. فاز پله ای اعمال شده شامل 5 پله با اختلاف فاز 90 درجه است. مزیت این روش، وابستگی کمتر نتایج اندازه گیری به انحرافات فاز، از مقدار معیار است. طبق نظریه داده برداری با فاز متغیر نتایج در مرتبه λ/256 است. نمونه مورد بررسی یک پتانسیومتر مکعب مستطیل با سطح مقطع 1×1cm بود.
Keywords:
Authors
علی موسویان
تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما
ابراهیم بحرودی
تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما
حمید لطیفی
تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :