اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu

در این پژوهش به سنتز و آنالیز ساختاری و اپتیکی نمونه های نانوساختار سولفید روی و سولفید روی آلاییده با مس میپردازیم. مطالعه ساختاری نمونه ها وجود طیف پهن مشخصه سولفید روی زینک بلند که به دلیل بسیار نازک بودن فیلم ها شکل آمورف آن غالب است را نشان میدهد. وجود یونهای مس تغییر محسوسی در طیف XRD سولفید روی آلاییده را باعث میشود. مطالعه UV-Visible نمونه ها حکایت از آن دارد که تراکم 1/5 درصد وزنی مس بهترین نتیجه را برای باریک تر کردن گاف انرژیZnS آلاییده بدست می دهد.

اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu Keywords:

لایه های نازک سولفید روی , اسپری پایرولیز , گاف انرژی , UV-Visible پراش پرتو ایکس

اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu authors

فرناز علیزاده

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) قزوین، ایران

محمدرضا خانلری

استاد تمام گروه فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران

مهتاب نیکزاد

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران

Certificate
I'm the author of the paper

Export:

Link to this Paper:

https://civilica.com/doc/807739

Document National Code:

MNTECH01_105

Index date: 14 December 2018

How to cite:

If you want to refer to this Paper in your research work, you can simply use the following phrase in the references section:

علیزاده، فرناز و خانلری، محمدرضا و نیکزاد، مهتاب،1397،اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu،1st National Conference on Micro/Nanoscale Technologies،Qazvin،https://civilica.com/doc/807739

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این Paper اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1397، علیزاده، فرناز؛ محمدرضا خانلری و مهتاب نیکزاد)
برای بار دوم به بعد: (1397، علیزاده؛ خانلری و نیکزاد)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

Scientometrics

The specifications of the publisher center of this Paper are as follows:

Ranking of Imam Khomeini International University

Type of center: دانشگاه دولتی

Paper count: 11,016

In the scientometrics section of CIVILICA, you can see the scientific ranking of the Iranian academic and research centers based on the statistics of indexed articles.

مقالات پیشنهادی مرتبط

مقالات فوق بر اساس داده کاوی مقالات مطالعه شده توسط پژوهشگران محاسبه شده است.

Related papers

مقاله فارسی "اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu" توسط فرناز علیزاده، گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) قزوین، ایران؛ محمدرضا خانلری، استاد تمام گروه فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران؛ مهتاب نیکزاد، گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه بین المللی امام خمینی (ره) قزوین، ایران نوشته شده و در سال 1397 پس از تایید کمیته علمی اولین کنفرانس ملی میکرو نانو فناوری پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله لایه های نازک سولفید روی، اسپری پایرولیز، گاف انرژی، UV-Visible پراش پرتو ایکس هستند. این مقاله در تاریخ 23 آذر 1397 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 673 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در این پژوهش به سنتز و آنالیز ساختاری و اپتیکی نمونه های نانوساختار سولفید روی و سولفید روی آلاییده با مس میپردازیم. مطالعه ساختاری نمونه ها وجود طیف پهن مشخصه سولفید روی زینک بلند که به دلیل بسیار نازک بودن فیلم ها شکل آمورف آن غالب است را نشان میدهد. وجود یونهای مس تغییر محسوسی در طیف XRD سولفید روی ... . برای دانلود فایل کامل مقاله اثر تراکم مس روی گاف انرژی نانو لایه های ZnS:Cu با 5 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.