سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

رشد و بررسی خواص نانو ساختاری اکسید تیتانیوم و نیتراید آلومینیوم

Publish Year: 1387
Type: Journal paper
Language: Persian
View: 525

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

JR_PSI-8-1_001

Index date: 20 January 2019

رشد و بررسی خواص نانو ساختاری اکسید تیتانیوم و نیتراید آلومینیوم abstract

اکسید تیتانیوم و نیترید آلومینیوم را در شرایط به ترتیب فشار بالا و فشار بسیار پایین بر زیر لایه سیلیکونی رشد داده ایم و با استفاده از تکنیکهایی نظیر تابش سینکروترونی ( AES ( Auger Electron Spectroscopy و SEM ( Scanning Electron Microscope به مطالعه ساختار آنها پرداختیم. بررسیهای به عمل آمده نشان می دهند که فیلم آمورف اکسید تیتانیوم و یا نیترید آلومینیوم بر زیر لایه سیلیکون شکل گرفته است که این ویژگی در کنار بالا بودن ثابت دی الکتریک آنها، می تواند از آنها یک گیت دی الکتریک مناسب به جای اکسید فرا نازک سیلیکون بسازد.

رشد و بررسی خواص نانو ساختاری اکسید تیتانیوم و نیتراید آلومینیوم Keywords:

نیمرسانا , فیلم نازک , CMOS اکسید تیتانیوم و نیترید آلومینیوم , تکنیکهای سینکروترون , AES و SEM

رشد و بررسی خواص نانو ساختاری اکسید تیتانیوم و نیتراید آلومینیوم authors

علی بهاری

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران، بابلسر

کبرا حسن زاده

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران، بابلسر

مونا امیرصادقی

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران، بابلسر

ماندانا رودباری

گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه مازندران، بابلسر