اندازه گیری ضریب شکست زیر لایه ها به کمک ساختارهای دوره ای خودزای ایجاد شده در لایه های نازک حساس به نورAgCl-Ag
Publish place: Iranian Physics Conference 1387
Publish Year: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,283
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IPC87_166
تاریخ نمایه سازی: 24 آذر 1388
Abstract:
در این مقاله گزارش تهیه ساختارهای دوره ای خودزا در لایه های نازک AgCl آلاییده به نانو ذرات Ag و اندازه گیری ضریب شکست زیر لایه از طریق اندازه گیری پریود این ساختارها (توریها) ارائه می شود. لایه نازک AgCl با ضریب شکست 2.06 می تواند به مانند یک موجبر صفحه ای عمل کند. از طرفی پوشاندن لایه با نانوذرات نقره آن را به نور حساس می کند. نانوذرات نقره از طریق لایه نشانی در خلاء ایجاد شدند. با نوردهی این فیلم نازک حساس به نور ( AgCl-Ag ) که خاصیت موجبری دارد و برانگیختگی مدهای آن، تداخل بین باریکه فرودی و مد موجبر رخ می دهد. نانوذرات نقره به محل فریزهای تاریک نقش تداخلی ایجاد شده می روند و یک توری یا به عبارتی ساختار دوره ای خودزا درست می شود. ما نشان دادیم با اندازه گیری پریود این توری میتوان ضریب شکست زیر لایه را تعیین کرد.
Authors
نهال ارشمید
آزمایشگاه مواد فوتونیکی، دانشکده فیزیک، دانشگاه تهران