بررسی اثر تعداد دفعات لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های منگنز اکسید تهیه شده به روش پوشش دهی چرخشی
Publish Year: 1397
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,012
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
CMTS02_035
Index date: 20 July 2019
بررسی اثر تعداد دفعات لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های منگنز اکسید تهیه شده به روش پوشش دهی چرخشی abstract
در این تحقیق دو نمونه با شش و هفت بار لایه نشانی به روش پوشش دهی چرخشی بر روی زیرلایه های شیشه ای تهیه گردید. نمونه ها ابتدا تحت شار اکسیژن در دمای ۵۰۰ºC کلسینه گردیدند و سپس به کمک پراش پرتوایکس (XRD)، میکروسکوپ الکترون روبشی (FESEM) و پراش انرژی پرتوایکس (EDAX) مورد بررسی قرار گرفته است. نتایج بررسی XRD نشان می دهد که ساختار بلوری هر دو نمونه فاز مکعبی می باشد. افزایش تعداد دفعات لایه نشانی باعث افزایش اندازه بلورک ها می شود. همچنین با توجه به تصاویر FESEM مشاهده شد که با افزایش تعداد دفعات لایه نشانی، دانه ها بزرگ تر و یکنواختی سطح کمتر شده است. آزمایش EDAX نشان داد نمونه های تهیه شده فاقد ناخالصی می باشند. خواص اپتیکی این لایه ها، با استفاده از تحلیل طی فسنج مرئی-فرابنفش انجام شده و نتایج نشان می دهد که با افزایش تعداد دفعات لایه نشانی، میزان عبور و اندازه گاف اپتیکی، کاهش می یابد.
بررسی اثر تعداد دفعات لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های منگنز اکسید تهیه شده به روش پوشش دهی چرخشی Keywords:
بررسی اثر تعداد دفعات لایه نشانی بر خواص فیزیکی لایه های منگنز اکسید تهیه شده به روش پوشش دهی چرخشی authors
عباس بهادری مرغزار
دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
نفیسه معماریان
استادیار، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
حمیدرضا قلی پور دیزجی
استاد، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران
مریم علیان نژادی
استادیار، دانشکده فیزیک، دانشگاه سمنان، سمنان، ایران