نگاهی به مبانی پراش اشعه ایکس (مقدمه ای کوتاه به XRD و XRF)
Publish place: 8th International Conference on Mechanics, Construction, Industries and Civil Engineering
Publish Year: 1400
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 990
This Paper With 25 Page And PDF and WORD Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
MMICONF08_053
تاریخ نمایه سازی: 23 شهریور 1400
Abstract:
؛XRD یا همان پراش اشعه ایکس (X-Ray Diffraction) تکنیکی قدیمی و پرکابرد در بررسیخصوصیات کریستال ها می باشد. در این روش از پراش اشعه ایکس توسط نمونه جهت بررسیویژگی های نمونه استفاده می شود.تکنیک XRD برای تعیین عموم کمیات ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه،تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیریتک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه و غیره، قابل استفاده می باشد. در این مقاله ابتدا بااساس کار XRD و سپس با اجزا XRD و همچنین XRF آشنا خواهیم شد.
Keywords:
بلورشناسی , کریستالوگرافی , طیف سنجی فلورسانس , پرتو ایکس , XRD , بلورنگاری پرتو ایکس , XRF , بلور , کریستال , رشد بلور
Authors
پوریا زرشناس
کارشناسی ارشد شیمی معدنی، دانشکده علوم شیمی و نفت - دانشگاه شهید بهشتی