معرفی طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین
Publish Year: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 190
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IMTC03_133
تاریخ نمایه سازی: 17 آبان 1401
Abstract:
طیف سنجی پراش اشعه (XRD) X یک تکنیک بسیار سریع و تحلیلی به منظور شناسایی فاز یک ماده ی کریستالی است. امروزه این تکنیک یکی از روشهای معمول برای مطالعه ساختارهای کریستالی و فاصله اتمی است. اشعه های X مورداستفاده در پراش، به طورمعمول دارای طول موجی در حدود ۰.۵ تا ۲.۵ آنگستروم هستند ازاینرو این روش بر مبنای خاصیت موجی اشعه بناشده است؛ بنابراین با به کارگیری این ناحیه طیفی میتوان اطلاعاتی بسیار کاربردی ساختارهای کریستالی را نظیر هندسه شبکه، تعیین اندازه کریستالها، جهتگیری تک کریستال و عیوب ساختار را تعیین نمود. علاوه بر این طیف سنجی پراش اشعه X با مشخص نمودن پارامترهای تاثیرگذاری چون زاویه براگ، شدت و پهنای پیکها و اندازه ذرات توانایی شناسایی ترکیبات را داراست. در این مقاله ابتدا به اساس کار و سپس به معرفی سایر اجزای طیف سنجی پراش اشعه X و کاربرد آن در مشخصه یابی آسفالتین پرداخته میشود.
Keywords:
Authors
سمیرا سلجوقی پبدنی
دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران
بهروز میرزایی
هیئتعلمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل،ایران