شبیه سازی نحوه تشکیل کانال در ترانزیستور سیلیکون روی الماس ۲ لایه با استفاده از روش کوانتومی و مقایسه آن با روش کلاسیک

Publish Year: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 145

This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICNRTEE01_004

تاریخ نمایه سازی: 11 اردیبهشت 1402

Abstract:

در این مقاله با توجه به بهبود برخی پارامترها ترانزیستور سیلیکون روی الماس دولایه معرفی شده است که عایق اول الماس و عایق دوم دی اکسید سیلیکون میباشد ما با استفاده از نرم افزار ISE-TCAD- شبیه سازیهای کلاسیک و کوانتومی را انجام داده و مکان تشکیل کانال در ترانزیستئر را در این دو حالت بررسی و مقایسه خواهیم کرد و میخواهیم ببینیم چه پارامترهایی در مکان تشکیل کانال در ترانزیستور موثر .هستند مکان تشکیل کانال در ترانزیستور جهت مدلسازیهای فیزیکی بسیار حائز اهمیت میباشد. مدل استفاده شده جهت شبیه سازیهای کوانتومی مدل گرادیان چگالی میباشد.

Keywords:

مکان تشکیل کانال , شبیه سازی کوانتومی و کلاسیکی ترانزیستور , ترانزیستور سیلیکون روی الماس دو لایه , مدل گرادیان چگالی

Authors

آرش رئیسی

دانشجوی کارشناسی ارشد- دانشکده فنی و مهندسی- دانشگاه شهرکرد

آرش دقیقی

دانشیار- دانشکده فنی و مهندسی- دانشگاه شهرکرد،

رضا خسروی فارسانی

دانشجوی کارشناسی ارشد- دانشکده فنی و مهندسی- دانشگاه شهرکرد،