Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings
Login |Register |Help |عضویت کتابخانه ها
Paper
Title

آنالیز کمی سیمان به دو روش دیفرکتومتری پرتو XRD و میکروسکوپ الکترونی SEM

Year: 1387
COI: SCMI16_232
Language: PersianView: 2,031
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download

Buy and Download

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این Paper را که دارای 6 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

Authors

سیما ضیغمی - گروه فیزیک دانشگاه آزاد اسلامی تبریز
سعید برادران دیلمقانی - گروه فیزیک دانشگاه تبریز

Abstract:

دراین مقاله بر روی 6 نمونه کلینکر سیمان از 4 کوره درساعات متفاوت ، مطابق مراحل زیر آنالیز انجام شده و مقایسه صورت گرفته است: نمونه برداری از کلینکر های سیمان خط تولید کارخانه سیمان صوفیان از 4 کوره موجود ، درساعت وروز مشخص انجام و سپس نمونه ها جهت آنالیز شیمیائی به آزمایشگاه شیمی کارخانه سیمان صوفیان ارسال شد. در ضمن آماده سازی نمونه ها جهت آنالیز به روش میکروسکپ الکترونی SEM که شامل برش ، مانت کردن ، سایش ، پولیش و اچینگ وآنالیزوتصویربرداری توسط میکروسکپ الکترونی انعکاسی ازسطوح صیقلی نمونه ها و تعیین درصد فازها ی موجود از تصاویر میکروسکپ الکترونی توسط نرم افزار اتوکد 2006 انجام گرفت قابل ذکر است آماده سازی نمونه ها جهت آنالیز به روش دیفرکتومتری پرتو (XRD) x که شامل آسیاب کردن و دانه بندی نمونه ها بوده و آنالیز کمی فازها ی موجود با دستگاه XRD که عبارت است از گرفتن طرح پراش (دیاگرام دیفرکسیون) ، کالیبراسیون ومحاسبه معادله خط شدت برحسب درصد جرمی برای نمونه های استاندارد ومحاسبه درصد جرمی فازهای نمونه های مجهول مقایسه دو روش آنالیز دیفرکتومتری پرتو XRD) x و میکروسکپ الکترونی صورت گرفته است که در این مقایسه ، نتایج آنالیز شیمیائی به عنوان مرجع ومبنا قرار گرفت. نتیجه اینکه روش XRD بعنوان یک روش سریع که دارای مراحل آماده سازی بسیار راحت تر از میکروسکپ الکترونی است ، شناخته شد. لکن با توجه به اینکه در روش میکروسکپ الکترونی تصاویر فازها ی موجود بطور مستقیم مشاهده می شود ، می توان اندازه وتوزیع فازها را نیز بررسی کرد درصورت امکان بهتر است از هردو روش به موازات هم برای تشخیص و آنالیز کمی نمونه ها بهره گرفت تا به نتایج ارزشمندی دست یافت..

Paper COI Code

This Paper COI Code is SCMI16_232. Also You can use the following address to link to this article. This link is permanent and is used as an article registration confirmation in the Civilica reference:

https://civilica.com/doc/180664/

How to Cite to This Paper:

If you want to refer to this Paper in your research work, you can simply use the following phrase in the resources section:
ضیغمی، سیما و برادران دیلمقانی، سعید،1387،آنالیز کمی سیمان به دو روش دیفرکتومتری پرتو XRD و میکروسکوپ الکترونی SEM،16th Symposium of Crystallography and Mineralogy of Iran،Rasht،https://civilica.com/doc/180664

Research Info Management

Certificate | Report | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این Paper را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

Scientometrics

The specifications of the publisher center of this Paper are as follows:
Type of center: دانشگاه دولتی
Paper count: 23,799
In the scientometrics section of CIVILICA, you can see the scientific ranking of the Iranian academic and research centers based on the statistics of indexed articles.

مقالات پیشنهادی مرتبط

New Papers

New Researchs

Share this page

More information about COI

COI stands for "CIVILICA Object Identifier". COI is the unique code assigned to articles of Iranian conferences and journals when indexing on the CIVILICA citation database.

The COI is the national code of documents indexed in CIVILICA and is a unique and permanent code. it can always be cited and tracked and assumed as registration confirmation ID.

Support