مشخصه یابی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان بر روی درجه ی خلوص و همراستایی نانولوله های کربنی
Publish place: 1st National Conference on NanoScience and Nanotechnology
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,682
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
AHVAZNANO01_013
تاریخ نمایه سازی: 19 اسفند 1391
Abstract:
این مقاله آرایه منظم نانولوله های کربنی را بوسیلهی الگوی پراش اشعه ایکس و طیف سنجی رامان مطالعه میکند. مساحت الگوهای پراش عموما خلوص و مقدارکربن آمورف در نانولولههای کربنی را ارائه میدهد و شدت قلههای مربوط به صفحات( 002 ) همراستایی و نظم موجود در نانولولههای کربنی را تعیین میکند. مد شعاع تنفسینانولوله کربنی علاوه بر تعیین کردن محدودهی پیوستگی در قطر نانولولههای کربنی، مقدار نانولوله را ارائه میدهد. با توجه به محدوده فرکانسی بالاتر شدت باندهای گرافیتی و نقص در این طیف سنجی معرف خلوص و بلورینگی نانولولهها خواهد بود. این شیوهها روش ساده ای را در تعیین میزان خلوص، یکراستایی و بازهی قطر نانولولههای کربنی ایجاد کرده است
Keywords:
Authors
امیرحسن مهدی زاده مقدم
پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
مرتضی ایرانی
پژوهشکده فناوری نانو ، دانشگاهسیستان و بلوچستان ، زاهدان ، ایران
عماد خاکسار
دانشگاهسیستان و بلوچستان