بررسی سطح مواد توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، نحوه عملکرد، مزایا و چالش های آن
Publish Year: 1403
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 32
This Paper With 16 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
OGPH09_041
Index date: 18 March 2025
بررسی سطح مواد توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، نحوه عملکرد، مزایا و چالش های آن abstract
میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) امکان تصویربرداری از سطح نمونه را فراهم می کند. تکنیکی برای بررسی توپوگرافی سطح و مورفولوژی مواد در مقیاس نانو است . تصاویر با وضوح و بزرگنمایی بالاتر از میکروسکوپ نوری ارائه می کنند. زمانیکه پرتو الکترونی به سطح نمونه تابیده میشود، باعث بر همکنش بین سطح و الکترون ها و ساطع شدن بیم های الکترونی متفاوت از سطح نمونه در اثر برخورد الکترونهای منبع الکترونی مانند الکترون های ثانویه (SE) و الکترون های پراکنده برگشتی (BSE) می شود. الکترونها توسط آشکارسازها تبدیل به تصویر می شوند. اجزای میکروسکوپ الکترونی روبشی ، انواع SEM، انواع الکترونهای ساطع شده از نمونه ، نحوه شکل گیری تصویر در این گزارش مورد بررسی قرار گرفته شده است .
بررسی سطح مواد توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، نحوه عملکرد، مزایا و چالش های آن Keywords:
میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) , توپوگرافی , الکترون های ثانویه (SE) , الکترون های پراکنده برگشتی .(BSE)
بررسی سطح مواد توسط میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، نحوه عملکرد، مزایا و چالش های آن authors
Fatemeh Sadeghi
Department of Medical Engineering, South Tehran Branch, Islamic Azad University, Tehran, Iran
Hamide Barghamadi
Department of Medical Engineering, South Tehran Branch, Islamic Azad University, Tehran, Iran
