سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

Login
PapersConferencesJournals

تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها

Publish place: 1st Iranian Conference on Photonics Engineering
Publish Year: 1387
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,621

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

Export:

Link to this Paper:
https://civilica.com/doc/65231

Document National Code:

PHOTONICS01_064

Index date: 2 January 2009

تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها abstract

در طول ZrO2 و TiO2 لایه های دی الکتریک (k) و ضریب خاموشی (n) چکیده : هدف از این مقاله بررسی تجربی تغییرات ضریب شکست موجهای مختلف ( منحنی پاشندگی ) میباشد . به همین منظور با استفاده از نقاط بیشینه و مشاهده شده در طیف عبوری تجربی لایه های ضریب شکست و ضریب خاموشی این مواد در طول موجهای متفاوت محاسبه شده ، (Envelope Method) نازک و استفاده از روش پوش همچنین اثر تغییرات حرارتی بر منحنی پاشندگی این لایه ها بررسی گردیده است .

تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها Keywords:

روش پوش و منحنی پاشندگی

تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها authors

علیرضا بتانج

پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا

سمیه امیری

دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی

بهرام ملت نواز

پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا

علی محمدی

پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
D.C _ S ati _ R.Cumar, R.M .Mehra. Influence of ...
علیرضا بنانج, مقایسه و بررسی آستانه تخریب لیزری فیلم های ...
S.Ilican, M _ C aglar, Y.Caglar, De termination of the ...
B.Zengier, M.bayhan, S.avasoglu, Optical Absorption in _ lyerystalline CdTe thin ...
N.Valentin, S.Chirca, D.mardare, Dete _ of the optical corstants and ...
نمایش کامل مراجع

مقاله فارسی "تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها" توسط علیرضا بتانج، پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا؛ سمیه امیری، دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران مرکزی؛ بهرام ملت نواز، پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا؛ علی محمدی، پژوهشکده لیزر و اپتیک - پژوهشگاه علوم و فون هسته ای - سازمان انرژی اتمی ا نوشته شده و در سال 1387 پس از تایید کمیته علمی اولین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله روش پوش و منحنی پاشندگی هستند. این مقاله در تاریخ 13 دی 1387 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 1621 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در طول ZrO2 و TiO2 لایه های دی الکتریک (k) و ضریب خاموشی (n) چکیده : هدف از این مقاله بررسی تجربی تغییرات ضریب شکست موجهای مختلف ( منحنی پاشندگی ) میباشد . به همین منظور با استفاده از نقاط بیشینه و مشاهده شده در طیف عبوری تجربی لایه های ضریب شکست و ضریب خاموشی این مواد در طول ... . برای دانلود فایل کامل مقاله تعیین تجربی ثابت های اپتیکی لایه های نازک TiO2 و ZrO2 و بررسی اثر دما بر منحنی پاشندگی این لایه ها با 4 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.