تحلیل آماری سطوح آب دوست چندلایه ای Sio به کمک داده های AFM
Publish place: 5th Nanotechnology Students Conference
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,266
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NANOSC05_027
تاریخ نمایه سازی: 22 اسفند 1387
Abstract:
در این تحقیق، تاثیر زمان خوردگی بر خواص آماری سطوح زبر با استفاده از داده های میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و آنالیز تصادفی آن، مطالعه گردید برای این منظور مطالعه ی سطوح آب دوستSiO2/TiO2/Glass به دلیل اهمیت کاربردی انتخاب و به کمک روش خوردگی با محلول 35درصد KOH زبری مناسب ایجاد گردید در ادامه پیچیدگی افت و خیز سطوح بدست آمده به کمک روش تکرار پذیری میانگین بررسی و مشخصات آماری سطوح با آب دوستی بهینه تعیین گردید.
Authors
ابراهیم دریائی
دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف، تهران
علیرضا مشفق
دانشکده فیزیک دانشگاه صنعتی شریف، تهران - پژوهشکده علوم و فناوری نان
غلامرضا جعفری
دانشکده فیزیک دانشگاه شهید بهشتی