بررسی خواص اپتیکی فیلم نازک ZnS به روش تبخیر در خلاء (PVD)
Publish place: 10th Iranian Seminar on Surface Engineering
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,569
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISSE10_058
تاریخ نمایه سازی: 1 فروردین 1388
Abstract:
لایه های نازک ZnS در دو دمای مختلف زیر لایه 25C و 200C و در ضخامت های مختلف 100-600nm روی زیر لایه شیشه به روش تبخیر در خلاء لایه نشانی شدند. طیف جذب و عبور برای تعیین گاف انرژی، ضریب جذب و ثابت خاموشی نمونه ها تهیه گردید. از بررسی این طیف ها مشخص شد که با افزایش دمای زیرلایه و یا ضخامت آنها گاف اپتیکی نمونه هاهکاهش می یابد. این پدیده می تواند به اثر کوانتومی سایز ذرات نسبت داده شود.
Keywords:
Authors
محمدرضا خانلری
دانشکده فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی
ندا احمدی
دانشکده فیزیک، دانشگاه بین المللی امام خمینی
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :