سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

Login
PapersConferencesJournals

برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای

Publish place: 16th Iranian Conference on Optics and Photonics (ICOP2010)
Publish Year: 1388
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 1,264

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دانلود نمایند.

Export:

Link to this Paper:
https://civilica.com/doc/73777

Document National Code:

ICOPTICP16_232

Index date: 9 July 2009

برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای abstract

در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی با فاز پله ای متغیر در بازوی مرجع، توپوگرافی تغییرات اعمال شده به سطح را بدست آورده ایم. فاز پله ای اعمال شده شامل 5 پله با اختلاف فاز 90 درجه است. مزیت این روش، وابستگی کمتر نتایج اندازه گیری به انحرافات فاز، از مقدار معیار است. طبق نظریه داده برداری با فاز متغیر نتایج در مرتبه λ/256 است. نمونه مورد بررسی یک پتانسیومتر مکعب مستطیل با سطح مقطع 1×1cm بود.

برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای Keywords:

برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای authors

علی موسویان

تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما

ابراهیم بحرودی

تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما

حمید لطیفی

تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
_ Holography, pp. 38- 39, Springe. موسویان، ع، بحرودی، آ، ...
Hack, Erwin, ESPI - Principles _ p rospects, Trends in ...
Burke, Jan, Application _ optimization of the spatial phase shifting ...
Malacara, Daniel, Phase shifting in te rferometry, Optical shop testing, ...
نمایش کامل مراجع

مقاله فارسی "برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای" توسط علی موسویان، تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما؛ ابراهیم بحرودی، تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما؛ حمید لطیفی، تهران، اوین، دانشگاه شهید بهشتی، پژوهشکده لیزر و پلاسما نوشته شده و در سال 1388 پس از تایید کمیته علمی شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله اسپکل، تداخل سنجی، فاز پله ای، تست غیرمخرب هستند. این مقاله در تاریخ 18 تیر 1388 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 1264 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در این مقاله با استفاده از روش تداخل سنجی اسپکلی با فاز پله ای متغیر در بازوی مرجع، توپوگرافی تغییرات اعمال شده به سطح را بدست آورده ایم. فاز پله ای اعمال شده شامل 5 پله با اختلاف فاز 90 درجه است. مزیت این روش، وابستگی کمتر نتایج اندازه گیری به انحرافات فاز، از مقدار معیار است. طبق نظریه داده ... . برای دانلود فایل کامل مقاله برجسته نگاری تغییرات سطح در مرتبه نانومتر به کمک روش تداخل سنجی اسپکلی دیجیتالی با فاز متغیر 5 پله ای با 4 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.