بررسی روش های تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل

Publish Year: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,138

This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

DCONF04_025

تاریخ نمایه سازی: 18 مرداد 1398

Abstract:

با پیشرفت تکنولوژی و پیدایش سنسور های متنوع در طیف الکترومغناطیس، سنجش از دور با مقادیر قابل توجهی داده سر و کار دارد. به منظور بهره مندی توام از اطلاعات طیفی و مکانی سنسور های مختلف از تلفیق تصاویر استفاده میگردد. تلفیق تصویر ترکیبی است از دو یا چند تصویر از منابع مختلف که در رزولوشن، محدوده ی طیفی و روش های اخذ تصویر باهم متفاوتند و هدف تبدیل آن به یک تصویر واحد است که تمام ویژگی های مهم تصاویر ورودی در خود حفظ کرده است. این تصاویر در سه سطح پیکسل، ویژگی و سیمبل میتوانند با هم تلفیق شوند و اطلاعاتی با کیفیت را نتیجه دهند که از یک تصویر واحد امکان پذیر نمیباشد. معنا و برآورد کیفیت به بستگی به کاربرد مورد نظر برای تلفیق تصاویر دارد. از این رو هر روش برای کاربردی خاص استفاده میشود و در آن زمینه دقت دارد. هدف از این مقاله مروری بر روش های برجسته ی تلفیق تصاویر سنجش از دور در سطح پیکسل و ارزیابی و مقایسه ی آن ها میباشد.

Authors

آیدا پروندی

دانشجوی کارشناسی ارشد سنجش از دور، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران

امیرشاهرخ امینی

عضو هیئت علمی گروه مهندسی نقشه برداری، واحد تهران جنوب، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران