مدل سازی دوسامانه نانومترولوژی برمبنای روش فرکانس - مسیر
Publish Year: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 819
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
BSNANO03_052
تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392
Abstract:
دراین مقاله ضمن طراحی مدلسازی و تحلیل دوسامانه نانومترولوژی با استفاده ازمدل فرکانس - مسربه مقایسه ای بین تداخل سنج دومودمعمولی و تداخل سنج سه مودبهبود یافته پرداخته میشود ازاین مدل برای تحلیل خطای غیرخطی متناوب استفاده میشود تعدادعبارات تداخلی ازتعدادمسیرها و فرکانسها بدست می اید که این عبارات صرفنظر ازارایش تداخل سنج به چهارگروه توان نوری تداخلAC تداخل DC و مرجع AC تقسیم بندی میشوند باتوجهبه نتایج تحلیل انجام شده اگرچه قابلیت تفکیک پذیری درتداخل سنج سوپرهتروداین سه مودچهاربرابر شده است اما مولفه های جریانی به 21 افزایش یافته است درحالیکه تعداد مولفه های جریانی نوع هتروداین دومودی برابر10 است
Keywords:
Authors
سعید علیائی
دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
زهرا دشتبان
دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :