یک خودآزمون نیمه توکار برای آزمایش هسته های حافظه با استفاده از کدهای ماتریسی
Publish place: 15th Iranian Conference on Electric Engineering
Publish Year: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,506
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICEE15_291
تاریخ نمایه سازی: 17 بهمن 1385
Abstract:
در این مقاله روشی را بکار برده ایم که از آزمایشهای شبه تصادفی بهره برده وبا کمترین هزینه و سربار مساحتی هسته های حافظه را فقط با الگوهای تصادفی مورد ازمایش قرار می دهد. این روش یک روش آزمایش نیمه توکار(SBIST) است. زیرا در آن از یک پیچنده استفاده شده که استراتژی کدهای ماتریسی را برای آزمایش هسته حافظه بکار می برد و نتایج آزمایش را به یک آزماینده خارجی جهت مقایسه و تشخیص اشکال بصورت سریال ارسال میکند. این روش با حداقل سربار مساحتی دارای قابلیت آشکارسازی و مکان یابی اشکالات را داراست.
Keywords:
Authors
رضا نورمندی
واحد علوم و تحقیقات - حصارک
احمد خادم زاده
مرکز تحقیقات مخابرات ایران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :