اثر زمان لایه نشانی بر خواص ساختاری و مغناطیسی لایههای مسͺآهن

در این تحقیق، دو لایهای های (min x(Cu)/15min(Fe با استفاده از دستگاه کندوپاش استوانهای Magnetron DCSputtering بر روی زیرلایهی شیشه اسپاتر شدند و مورفولوژی سطح لایهها، ساختار و خواص مغناطیسی لایهها مورد بررسی قرار گرفتند. برای تعیین ساختار، مورفولوژی سطح و خواص مغناطیسی از آنالیزهای پراش پرتو x) XRD ،(میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM (و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM (استفاده شد. مشاهده شد که با افزایش زمان لایه نشانی مس از 5 به 15 دقیقه، ضخامت و زبری افزایش یافته است، همچنین لایه در جهت بلوری[1 [دارای بافتی قوی میشود و طبق نتایج آنالیز MFM مغناطش حوزه ها کاهش و اندازهی حوزه ها افزایش یافته است.

Keywords:

کندوپاش مغناطیسی , مورفولوژی سطح , مغناطش و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی