بررسی حساسیت پیچشی میکروتیر میکروسکوپ نیروی اتمی همراه با پروب اسمبل شده جهت اسکن دیوارهای جانبی
Publish place: 17th Annual Conference of Mechanical Engineering
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,092
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_636
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
Abstract:
دراین مقاله فرکانس تشدید پیچشی همچنین حساسیت پیچشی میکروتیرنوع جدیدی از میکروسکوپ های نیروی اتمی همراه با پروب اسمبل شده عمودی جهت اسکن دیواره های جانبی و لبه ها، مورد بررسی قرار گرفته و اثر سختی تماسی بین سطح مورد بررسی و نوک میکروسکوپ نیروی اتمی همچنین تاثیر نسبت طول پروب عمودی به طول میکروتیر افقی و جرم نوک این نوع جدید از میکروسکوپ های نیروی اتمی برروی فرکانس تشدید و حساسیت پیچشی میکروتیر افقی مورد مطالعه قرار گرفته و در پایان صحت مدل بررسی شده است.
Keywords:
Authors
محمدتقی احمدیان
استاد دانشکده مکانیک دانشگاه صنعتی شریف
محمدحسین کهربائیان
دانشجوی کارشناسی ارشد دانشکده مکانیک
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :