حذف مسیرسیگنال مرجع درسامانه نانومترولوژی سوپرهتروداین

Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 587

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

BSNANO02_245

تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392

Abstract:

دراین مقاله باارایه یک روش جدیددرسامانه نانومترولوژی برپایه تداخل سنج سوپرهتروداین مسیرسیگنال مرجع را ازساختارحذف نموده و ازسیگنالهای بخش اندازه گیری آن رابازیابی خواهیم کرد درسامانه های متداول ازسه اشکارسازنوری بهمنی برای اندازه گیری جابجایی هادرمقیاس نانواستفاده میشود امادراین مقاله نشان خواهیم داد که میتوان باحذف مسیرمرجع تعداد اشکارسازهای نوری و نیز افزاره های اپتیکی مانند قطبنده خطی و بخشهای الکترونیکی مانند ضرب کننده متعادل دوگانه را کاهش داد

Keywords:

تداخل سنج سه مودبهبودیافته , سیگنال مرجع , سامانه نانومترولوژی

Authors

سعید علیائی

دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

بهرام منفرد

دانشگاه تربیت دبیر شهید رجایی تهران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Brink, M., Jasper, H., Slonaker, S., Ijnhoven, P., and Klaassen, ...
  • Demarest, F.C.: _ Hi gh-resolution _ high-speed, 1ow data age ...
  • Yokoyama, T., Araki, T., Yokoyama, S., and Suzuki, ...
  • interferometrc system with improved phase sensitivity using a three _ ...
  • Yokoyama, S., Yokoyama, T., and Araki, T.: 'High-speed subnanometre interferometry ...
  • نمایش کامل مراجع